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K荧光装置主要性能研究

作者:李梦石; 吴金杰; 路兴强; 郭思明k荧光光子注量荧光x射线k吸收缘次级过滤

摘要:K荧光的注量率和辐射野的大小是标定探测器的两个重要指标,利用高纯错探测器与电离室对Zr,Cd1Cs2SO1,Sm2O3,Er2O3和W六种常见的辐射体进行了注量率的测量。结果显示注量率在10^7m^-2.s^-1量级,测量得到的能谱与理论能量相对比,验证了该装置的准确性。利用PTW3OO13电离室对K荧光装置的辐射野进行了测量,结果显示水平方向辐射野均匀性大于95%的直径范围为120mm,竖直方向上辐射野大于95%的直径范围为100mm。

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核电子学与探测技术

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