作者：来永芳; 秦婉云; 高静; 祁烨林; 张煊效率刻度mc模拟mcnp
摘要：提出了MCNP模拟计算与单能体源实测修止相结合的井型γ谱仪水样效率刻度方法,基于MCNP,计算了γ射线不同能量、水样不同高度的井型NaI(Tl)γ谱仪全能峰效率值、拟合了数学模型,两者最大相对偏差小于3%,并通过点源实测验证了所提方法的可行性,建立了基于MCNP模拟计算与单点实测修正相结合的效率刻度方法。
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《核电子学与探测技术》（CN：11-2016/TL）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《核电子学与探测技术》为专业学术性刊物。刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
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