作者：付婷婷; 伍灵慧; 张晋; 王亮亮; 袁野; 张...硅像素径迹室漂移室校准残差法
摘要：硅像素径迹室是BESIII升级项目之一，离线软件校准是其离线数据处理系统的重要组成部分，研究过程采用蒙特卡罗方法，将残差法应用于漂移室升级项目中硅像素径迹室的几何位置校准，分别以ladder、芯片为最小探测单元进行研究，结果表明，该方法可有效应用于硅像素径迹室的位置校准。
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《核电子学与探测技术》（CN：11-2016/TL）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《核电子学与探测技术》为专业学术性刊物。刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
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