作者：邹永宁 陈旭峰 王珏工业ct几何测量阈值化边缘提取
摘要：为实现对物体内部结构尺寸的无损测量，提出一种基于阈值化边缘提取的工业CT图像几何尺寸的自动测量方法。首先对CT图像进行预处理，然后采用最佳阈值分割方法进行边缘提取，在此基础上实现了对工件的CT图像的几何尺寸的自动测量。实验结果表明：对图像的几何测量达到了一定的精度，基本上满足了可重复性和精确度的要求。同时这种方法对于有伪影的图像，可以有效地减少伪影的影响。
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《核电子学与探测技术》（CN：11-2016/TL）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《核电子学与探测技术》为专业学术性刊物。刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
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