作者：焦慧芳; 温平平; 贾新章; 王群勇; 罗雯; ...热阻vlsi老化模型
摘要：从老化筛选模型入手,阐述了老化模型参数热阻的重要性.基于热阻测量原理,给出了常见的热阻测量方法,同时分析了各测量方法的优缺点.在此基础上提出了一种新颖的封装热阻估计实验方法,虽然不能精确地测量出国产VLSI的热阻值,但给出了一种国产VLSI封装热阻数据的获取方法.实验证明其具有较强的实用性,不失为一种国产VLSI热阻参数快速确定的工程技术.
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《核电子学与探测技术》（CN：11-2016/TL）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《核电子学与探测技术》为专业学术性刊物。刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
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