作者：曾杰; 李政; 康克军局部特征识别辐射成像离散小波变换支持向量机
摘要：针对辐射图像的特点,设计并开发了一种支持向量机(SVM)和基于离散小波变换(DWT)的局部特征识别方法.使用支持向量机解决了辐射图像局部特征提取的困难和分类器对样本数目的要求.而小波的应用使得该算法能够支持多分辨率的特征提取,并提高了总体识别效率.还对比了两种常见的核函数,实验结果表明高斯径向基函数能够取得比较好的分类效果.
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《核电子学与探测技术》（CN：11-2016/TL）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《核电子学与探测技术》为专业学术性刊物。刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
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