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硅多条探测器性能测试

作者:袁小华; 胡荣江; 王宏伟; 段利敏; 谭继廉...硅多条探测器能量分辨率性能测试

摘要:介绍了对一种由近代物理研究所和北京大学联合研制的硅多条探测器性能测试的结果.具体测试内容包括:探测器的能量分辨率、Al面厚度以及探测器各条间的cross-talk(相互影响).同时,也对进口的Canberra有确定标称的硅多条探测器做了类似的测试,并进行了性能对比.

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核电子学与探测技术

《核电子学与探测技术》(CN:11-2016/TL)是一本有较高学术价值的大型双月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《核电子学与探测技术》为专业学术性刊物。刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。

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