作者：唐章奎; 唐正元; 李波均; 刘汉刚; 胡孟春...统计涨落中子产额绝对测量脉冲中子粒子实验数据现象对中闪烁探测器准确性
摘要：介绍了在用PMT闪烁探测器测量脉冲中子产额时,由于粒子的统计涨落而使脉冲波形呈现毛刺现象.根据实验中获得的实验数据,从实验和理论两个方面分析了统计涨落对产额绝对测量的影响.评定了在一定测量不确定度范围内脉冲中子产额绝对测量的准确性.
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《核电子学与探测技术》（CN：11-2016/TL）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《核电子学与探测技术》为专业学术性刊物。刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
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