作者：方旻; 刘以农; 倪建平多色单色重建图像工业ct硬化x射线校正方法伪像参数重建算法
摘要：介绍了大型工业CT的一种多色X射线硬化校正方法.该方法利用一个标准函数将多色投影值转化为单色投影值.定义了一些参数来证明该方法适用于大型工业CT的硬化校正,并对参数进行了优化.通过模拟实验,这种校正方法在不需要先验知识,使用单色重建算法的前提下,仍能大大减小CT重建图像的硬化伪像.
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《核电子学与探测技术》（CN：11-2016/TL）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《核电子学与探测技术》为专业学术性刊物。刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
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