作者：王烈波; 刘以农; 康克军伪影体内影响x射线研究验证分析散射交界面carlo方法
摘要：X射线散射的存在严重影响了工业CT系统的性能,物体内部密度锐变区域的散射将可能引起重建图像严重的高频伪影,从而影响缺陷的检测,理论计算了不同材料交界面处的X射线散射引起的投影数据偏差的强度及分布,并通过Monte Carlo方法作了验证,在此基础上,简单分析了散射引起的伪影的表现形式.
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《核电子学与探测技术》（CN：11-2016/TL）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《核电子学与探测技术》为专业学术性刊物。刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
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