作者：赵龙; 安琪; 刘树彬; 王砚方jtag并行口控制器设计计算机程序下载可编程芯片边界扫描vlsi电路路测可测试性设计
摘要：JTAG定义的边界扫描机制是一种新型的VLSI电路测试及可测试性设计方法, JTAG 规范广泛用于芯片内部数据寄存器的配置,可编程芯片的程序下载等.介绍了一种简单有效的JTAG控制器设计方法.
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《核电子学与探测技术》（CN：11-2016/TL）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《核电子学与探测技术》为专业学术性刊物。刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
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