作者：邓勇军; 张一云正电子湮没呈色机理辐照变色机理黄玉快中子辐照
摘要：通过对天然无色黄玉、快中子辐照变色黄玉、高能电子辐照变色黄玉以及辐照变色黄玉退火过程的正电子湮没寿命谱的对比分析研究,结果表明:中子、电子辐照均不同程度地在黄玉中产生了相当数量的缺陷.从而造成黄玉的变色,而辐照变色黄玉高温退火后,相当数量的缺陷消失,从而导致改色后黄玉的退色. 在此基础度上对黄玉的呈色机理作了探讨,并对黄玉的改色工艺作了大胆的预测.
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《核电子学与探测技术》（CN：11-2016/TL）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《核电子学与探测技术》为专业学术性刊物。刊登核仪器、核电子学、核探测器与测试技术方面的研究成果和论文。读者对象为核电子学、核探测技术方面的研究人员及大专院校师生。
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