中子辐照的6H-SiC单晶的退火回复特性

作者：赵荣荣; 李连钢; 阮永丰中子辐照等时退火xrd

摘要：对6H-SiC单晶进行中子辐照（中子总剂量为2.85×1020 n/cm2）后对其进行200~1 700℃的等时退火处理,利用X线衍射技术（XRD）观察和分析中子辐照对样品造成的损伤及其回复规律.通过研究（0001）晶面衍射峰的峰形和峰位置发现,等时退火处理后,辐照缺陷逐渐消失,晶体衍射峰的半高宽在200~600℃回复明显,在600~1 400℃没有明显变化,但在1 400℃之后又开始明显减小,最后接近辐照前的数值.而晶面间距d在200~1 400℃时持续减小,之后又随退火温度的升高而变大,最后接近辐照前的数值.通过对辐照损伤回复规律的分析认为,中子辐照使样品内部出现了大量点缺陷和线缺陷,而这些缺陷大多可以通过高温退火消除.

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