作者：秦实宏; 何俊佳; 程礼椿; 邹积岩合成回路触发电路真空开关at89c52
摘要：阐述了影响合成试验成功的关键技术问题,采用光隔、单片机等技术实现了合成回路各开关时序以及电流引入时间的准确控制,提高了合成试验可靠性和成功率,并开发了单片机数据采集和合成回路试验控制系统.
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