作者：曲舒霆; 刘旭; 孙小菡锥形透镜光纤平面光波光路芯片耦合实验
摘要：对锥形透镜光纤（TLF）与半导体多量子阱（MQW）平面光波光路（PLC）芯片的耦合特性进行了实验研究．数值模拟了TLF、普通单模光纤（SMF）分别和PLC芯片脊波导的耦合情形，发现TLF—PLC耦合损耗比SMF-PLC耦合损耗小3．01dB．测得了TLF的出射光场光斑，分析了出射光场发散范围．建立光纤一PLC芯片耦合实验系统，用放大自发辐射（ASE）宽带光源在15g0nm波长处对比分析了PLC芯片与不同光纤的耦合连接损耗，从而确证最佳方案为TLF—PLC—SMF：即TLF作为入纤，SMF作为出纤时，耦合对准容易实现，损耗为10．798dB，比TLF—PLC-TLF耦合损耗小4．458dB．
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