作者：钱宏文; 刘继祥; 李凯labviewmatlabcom组件通用化adc测试
摘要：目前国内大多数ADC测试平台通用性差,一般只能满足一款或几款ADC芯片指标测试,可扩展性差,不能很好满足客户需求。为了解决ADC测试平台通用性差问题,硬件上采用FPGA+SOC的架构,支持LVDS、COMS、JESD204B等接口实现数据的采集和传输,同时还支持多种接口电压,使得该平台能适应各种电压接口的ADC;软件方面采用LabVIEW+Matlab架构,通过更新数据库、配置文件、Matlab算法(COM组件)、FPGA程序等功能模块,以此实现不同型号芯片快算测试。通过对多种不同型号芯片进行测试,对比芯片手册,验证该平台的可行性。
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