作者：刘成惠ic生产测试软件硬件工位接错开尔文接法防呆
摘要：在IC生产测试中,经常会采取多工位的测试,这样的测试方法会显著提高测试的效率,提高生产量。然而,此种测试也会带来重大的生产隐患,严重时会带来重大的生产事故。采取传统的人员检查检测来预防,效率不高,错误也难以得到根本的避免。针对这一现象,在IC生产测试中,分别从软、硬件上进行改进,实现了IC生产中防止多个测试工位连接的错误,起到防呆作用。
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《工业控制计算机》（CN：32-1764/TP）是一本有较高学术价值的大型月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《工业控制计算机》读者群涵盖电力、机械、石化、冶金、交通、通信、轻工、医药、智能建筑、仪器仪表等多个领域，成为国内知名的专业技术期刊之一，得到了广大工控、自动化界人士的认可。本刊适合从事工业控制、自动化仪器仪表应用、开发、研究的企业技术管理人员、科研院所研究人员及高校师生。
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