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基于频率响应的数控机床伺服性能优化

作者:李作庆数控机床频率响应伺服性能bode图

摘要:基于频率响应测试方法,对数控机床伺服参数优化策略进行了研究。根据机床伺服控制器结构,结合控制过程,提出电流环、速度环及位置环在不同参数下的调试方案。从频率响应Bode图考察伺服性能,表明优化策略具有通用性,能够准确反应伺服系统的闭环带宽及机械谐振频率等信息,为准确设定伺服控制参数奠定基础。

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工业技术创新

《工业技术创新》(CN:10-1231/F)是一本有较高学术价值的大型双月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。

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