作者：薛丽ewma控制图非正态分布田口质量损失函数随机过程均值偏移
摘要：结合随机过程均值偏移的概率分布和田口质量损失函数，研究了非正态EWMA控制图的优化设计问题。利用Burr分布近似各种非正态分布，使田口质量损失函数的总平均值最小进而确定参数的最优值，对比研究表明该方法设计的非正态EWMA（ML—EWMA）控制图明显优于统计方法设计的非正态EWMA控制图，具有较小的质量损失。
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《工业工程》（CN：44-1429/TH）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《工业工程》理论与应用结合，内容涵盖经营战略、决策研究、制造系统、物流系统、设施规划、工作研究、成本分析、工程经济、质量保障、诊断评价、信息管理、人机工程、生产组织、人力资源、组织重构等。读者对象主要是从事工业工程理论与应用研究的科技人员、各级政府工业和经济管理部门的决策人员、各类企业管理人员，高校师生及其他有关人员。
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