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基于FPGA的红外焦平面成像条纹噪声逐帧抑制算法的研究

作者:侯婷; 顾国华; 陈钱红外焦平面阵列条纹噪声校正参数偏置电压噪声

摘要:红外焦平面阵列是当今红外成像技术发展的主要方向,随着器件工艺的进步,红外焦平面阵列探测器有了长足的发展,然而红外图像普遍具有信噪比低的缺点,这大大限制了红外焦平面的应用。与固定图案噪声(FPN)相比,随机噪声的最大特点是每帧均不同,因此去除该类型噪声的算法必须在一帧之内完成。提出了一种新型的单帧去除此类条纹噪声的算法并加以硬件实现,在单帧内设置适合的校正参数和阈值,达到在单帧图像内有效去除条纹噪声的目的。通过算法处理前后的图像对比以及客观的MSE、PSNR测试数据对比,证明了该算法能够有效地改善焦平面器件成像质量。

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光学与光电技术

《光学与光电技术》(双月刊)创刊于2003年,由湖北省科学技术协会主管,华中光电技术研究所;湖北省光学学会;武汉光电国家研究中心主办,CN刊号为:42-1696/O3,自创刊以来,颇受业界和广大读者的关注和好评。 《光学与光电技术》主要刊载光学与光电子技术领域在应用基础研究前沿开展的战略性和前瞻性的研究工作,包括光电子材料与器件、激光科学与技术、军用光电技术与系统、光电成像与检测、光通信系统与智能网络、光电信息处理、光电信息存储、生物医学光子学、光纤光学、纳米光电子学、微纳光电子机械系统、LED与固态照明、光学显示...

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