作者：任翔; 张晋; 严莉雅; 金倩膨体聚四氟乙烯数据电缆衰减泡孔结构
摘要：从膨体聚四氟乙烯(ePTFE)薄膜微观泡孔结构、介电性能这两项影响宇航高速数据电缆衰减性能的关键因素出发,对ePTFE薄膜进行了扫描电镜以及介电性能测试。将测得的ePTFE薄膜的微观泡孔结构电镜图像、介电性能与ePTFE薄膜绕包宇航高速数据电缆衰减的测试结果进行对比,发现采用较优介电性能ePTFE薄膜制成的宇航高速数据电缆的衰减并非较优,微观结构中岛状结点中纳米级孔径孔较多的ePTFE薄膜制成的宇航高速数据电缆衰减较小。
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《光纤与电缆及其应用技术》（CN：31-1480/TN）是一本有较高学术价值的大型双月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《光纤与电缆及其应用技术》在该领域享有很高的声誉，主要报道有关光纤、光缆、光无源器件、光通信系统、通信电缆、射频电缆、特种成缆和微波传输成及其连接器等研究和应用方面的论文和技术动态综述。
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