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基于椭圆外切矩形性质的圆形标志点检测

作者:杨态; 达飞鹏机器视觉椭圆检测准圆标志点聚类

摘要:圆形标志点检测通常被视为椭圆检测。由于光线、角度等原因,采集到的标志点会出现残缺,另外,当背景或物体较复杂时,非标志点边缘为标志点的提取带来干扰。为此,提出了一种基于椭圆外切矩形性质的圆形标志点检测方法。通过拟合椭圆的准圆来检测椭圆的中心,利用椭圆外切矩形的几何性质来确定椭圆的长短轴位置及旋转角度。为了去除非标志点的干扰边缘影响,进一步构造验证参数,并结合聚类算法,最终提取有效的标志点类。仿真与实物实验表明,该算法拟合精度高,检测性能优良,对具有部分残缺的椭圆有良好的识别效果,且对于复杂情况下的标志点识别仍具有较高的精度和稳健性。

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光学学报

《光学学报》(半月刊)创刊于1981年,由中国科学技术协会主管,中国光学学会;中国科学院上海光学精密机械研究所主办,CN刊号为:31-1252/O4,自创刊以来,颇受业界和广大读者的关注和好评。 《光学学报》主要刊登以光学科研为主体(交叉学科须侧重光学领域),有广阔研究前景、具有国内外领先水平或独创意义的学术论文,有一定独立见解的理论论述,有可靠数据的实验报道,有科学依据的技术应用,阶段性科研成果的实验快报。

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