作者:王吉明; 吴福全; 封太忠; 孔伟金磁光晶体退偏度偏振态磁致圆二向色性光通信
摘要:建立了磁光晶体磁致偏振特性测试系统。对Bi—YIG晶体样品在大范围磁场下的退偏现象进行了测试。结果表明,达到磁饱和或接近磁饱和时,Bi—YIG晶体的偏振性能最优;达到磁饱和后,随着磁场的增强,出现了磁致退偏效应。根据实验结果分析了磁致退偏效应的产生机理,并说明了磁致圆二向色性及磁致线双折射是产生退偏的原因。
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《光学技术》(CN:11-1879/O4)是一本有较高学术价值的大型双月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。
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