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PXI平台发展强势,为智能设备测试带来更多可能——记PXI TAC 2016在上海隆重召开

作者:贾静pxi平台tac智能设备海隆测试带pxi技术论坛

摘要:由NI主办的年度PXI盛会——第十三届PXI技术和应用论坛(PXI TAC2016)于2016年6月16日在上海隆重举办。PXI TAC 2015活动分为北京、上海、西安和广州4场分别举办,本届活动重新将4场活动合而为一,达到了600多人的参会规模。

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国外电子测量技术

《国外电子测量技术》(CN:11-2268/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《国外电子测量技术》致力于为测量技术领域内的科研、生产及教学工作者等提供全球产业发展的最新技术动向、构建优秀产品应用信息的舞台。

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