作者：刘建强; 李智ieee测试标准嵌入式核综述soc测试设计技术制造技术深亚微米集成电路设计规模系统集成详细介绍描述语言访问机制测试集成ip核ctltam
摘要：集成电路深亚微米制造技术和设计技术的迅速发展使得SOC得到越来越广泛的应用.随着系统设计规模的日益复杂,SOC的测试由于系统集成了不同的多个IP核变得愈加困难,已经逐渐变成SOC发展中的瓶颈.IEEE为解决SOC测试问题提出了嵌入式核测试标准P1500.文章详细介绍了P1500的测试架构,测试访问机制TAM及核测试描述语言CTL.最后描述了SOC测试集成中的常用模式.
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