作者：刘鸿琴产业发展半导体产业新动向ate发展前景挑战展望ic测试soc集成电路
摘要：本文从半导体产业的飞速发展,新型集成电路ASIC、SOC等器件的出现,分析了对IC测试提出的新要求和挑战.阐述了ATE(自动测试设备)产业可采取的新的解决方案及新型测试系统的性能与特点.最后,展望了ATE产业的发展前景.
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《国外电子测量技术》（CN：11-2268/TN）是一本有较高学术价值的大型月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《国外电子测量技术》致力于为测量技术领域内的科研、生产及教学工作者等提供全球产业发展的最新技术动向、构建优秀产品应用信息的舞台。
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