原子力显微镜（AFM）在石英薄片表面形貌分析中的应用

作者：杨丽; 张佩聪; 王建华; 董万建原子力显微镜石英薄片形貌分析

摘要：介绍了研究石英中杂质赋存状态的重要性以及原子力显微镜在石英表面分析中的应用,结果通过原子力显微镜我们能够看到石英表面颗粒分布均匀,结构致密,颗粒没有大尺度的起伏等表面结构,并且利用它高的分辨率得到了石英表面纳米级别的微观形貌,为后续的确定杂质赋存状态做了准备。

注：因版权方要求，不能公开全文，如需全文，请咨询杂志社