作者：王加伟; 周万兴; 雷达; 曾智桓; 朱桂平; ...冠心病糖耐量减低pci术临床转归
摘要：目的评估糖耐量减低对冠心病支架植入术后患者长期临床转归的影响。方法搜集我院2001—2014年资料完整、完全再血管化并且随访期糖代谢类型维持稳定的冠心病患者714例,根据初次空腹、餐后血糖或糖尿病史分为糖代谢正常组（NGT）260例、糖耐量减低组（IGT）229例及2型糖尿病组（DM）225例,平均随访（43.42±33.82）月,比较其血脂、血糖、颈动脉内膜中层厚度（IMT）、主要心血管事件（心血管死亡、非致死性心梗、心绞痛、心衰）、新发严重狭窄病变（≥75%参考血管）和支架内再狭窄发生率等。结果随访结束时,在血脂、吸烟量、血压控制相当的情况下,IGT组主要心血管事件、新发严重狭窄和支架内再狭窄发生率明显高于NGT组（分别为18.78%比9.62%,57.83%比38.82%,P〈0.05）;而与DM组（分别23.11%,63.75%）差别不明显。多因素回归分析显示,糖化血红蛋白增高是IGT组不良预后的主要影响因子（OR2.146,95%CI 1.558-2.956）。结论 IGT血糖异常可能是冠心病支架植入术后患者预后不良的重要影响因子。
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