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基于表面势的多晶硅薄膜晶体管的栅电容模型

作者:邓婉玲 郑学仁 陈荣盛多晶硅薄膜晶体管表面势栅电容

摘要:显式地推导多晶硅薄膜晶体管(Polysilicon thin-film transistors,poly-Si TFT)表面势隐含方程的近似解,该求解法非迭代的计算大大地提高了计算效率,且精确度非常高,与数值迭代结果比较,绝对误差范围只在纳伏数量级。利用求得的表面势,建立了一个poly-Si TFT栅电容模型,该电容电压模型能连续、准确地描述poly-Si TFT在线性区和饱和区的动态特性,同时该模型考虑了kink效应、沟道长度调制效应和寄生电容等。对实验数据进行拟合发现,提出的模型与实验数据符合得较好,能准确地预测poly-Si TFT的栅电容特性。

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固体电子学研究与进展

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