作者:孟庆凯 何捷 刘中华 张雷 宋婷婷 孙鹏电子辐照红外光谱缺陷效应退火效应
摘要:本文以能量为1.0MeV的电子束辐照VOAB)薄膜,对电子辐照在薄膜中产生的缺陷进行了理论计算,使用X射线衍射仪、傅立叶中红外光谱仪对薄膜进行测试,分析了电子辐照对薄膜结构与红外光谱(3400-400cm^-1)的影响。结果显示:电子辐照可以在薄膜中引入点缺陷并产生退火效应,电子辐照在薄膜中引入的点缺陷,可以使V-O=V受到破坏,退火可以使V—O=V振动得到恢复,而电子辐照对薄膜八面体角度弯曲振动影响不大。
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