作者：仇怀利; 王爱华; 尤静林; 陈辉; 殷绍唐晶体生长边界层结构观测研究显微拉曼光谱bso晶体生长过程实时测量结构特征变化过程晶体结构熔体结构生长基元键合结构聚合形成分子基团结构基团区熔法八面体多聚体格位
摘要：实时测量BSO晶体水平区熔法生长过程中, 研究固/液边界层以及边界层两侧的晶体和熔体的显微拉曼光谱, 晶体生长固/液边界层以及边界层两侧的熔体和晶体的结构特征, 生长基元结构从熔体结构经边界层过渡到晶体结构的变化过程. 结果显示, BSO熔体中存在Bi3O4和[SiO4]的键合结构;Bi3O4分子基团在固/液边界层聚合形成[BiO7]八面体单体、多聚体, 与[SiO4]结构基团联结, 在通过固/液边界层时进入格位.
注：因版权方要求，不能公开全文，如需全文，请咨询杂志社
