作者：王斗文; 赵雪蓉; 曾泽; 赵嗣奇移动极差统计合并技术监控电感耦合等离子体原子发射光谱不确定度金属硅铁杂质含量测定
摘要：采用ICP-AES(电感耦合等离子体-原子发射光谱法)测定金属硅中铁杂质含量进行不确定度评估时, 提出了平均移动极差(MR)合并统计动态监控技术. 研究认为, 采用该技术来进行ICP-AES测量系统的不确定度评估, 其贡献量分别是由控制样品(QC)和线性拟合两部分合成. 这一结论的得出能最大限度合成各种变异因素的影响, 避免了相关性的复杂计算, 有利于ICP-AES测量系统的不确定度评估.
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