作者：曾春香; 谢应茂材料光子晶体缺陷模
摘要：利用传输矩阵方法研究了多个周期性分布的负折射率缺陷的一维光子晶体的透射谱.以32个周期的1/4波堆存在5个负折射率缺陷的光子晶体为例进行了数值计算.结果表明：在带隙中产生多个缺陷模,这些缺陷模的分布依赖于缺陷在晶体中的分布.当缺陷密集时,缺陷耦合较强,缺陷模相距较远;当缺陷稀疏时,缺陷耦合较弱,缺陷模相距较近,分立的缺陷模趋于简并,由此形成一个很窄的通带.与正折射率缺陷情形相比较,负折射率缺陷间的相互作用对缺陷模的影响更大,缺陷模谱线也更宽.
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