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基于QGA优化Simple-MKL的模拟电路故障诊断方法

作者:莫凡珣; 马峻; 陈寿宏; 徐翠锋多分辨分析量子遗传算法简单多核学习模拟电路故障诊断

摘要:为解决模拟电路故障诊断中传统支持向量机(SVM)分类精度不高的问题,提出基于量子遗传算法(QGA)优化简单多核学习(Simple-MKL)支持向量机模型的模拟电路故障诊断方法。对电路进行瞬态分析,采用多分辨分析(MRA)提取电路故障特征,用量子遗传算法优化简单多核支持向量机中的正则化参数作为训练模型,用于模拟电路故障的诊断。仿真结果表明,本方法可实现模拟电路故障的精确分类。

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桂林电子科技大学学报

《桂林电子科技大学学报》(CN:45-1351/TN)是一本有较高学术价值的大型双月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《桂林电子科技大学学报》主要刊载信息与通信工程、信号与信息处理、计算机应用技术、仪器科学与技术、控制理论与控制工程、机械设计制造及其自动化、电磁场与微波技术、机械电子工程、工业艺术设计、材料加工工程、信息与计算科学、应用数学、工商管理等方面的学术论文。

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