作者：王阳 麻蔓芳 李颖洁脑电伪迹去除经颅磁刺激
摘要：经颅磁刺激同步脑电（TMS-EEG）技术是研究大脑功能网络的有效手段，但TMS过程中诱发的伪迹一直是阻碍TMS—EEG技术发展的瓶颈。阐述了TMS和EEG技术结合产生伪迹的原因，从伪迹的来源入手，就TMS放电伪迹、肌电伪迹、听觉伪迹及残留伪迹等方面，总结了近十几年来文献中提到的伪迹去除方法，并对相关技术的未来发展作了展望。可以预计，由于其诱人的应用前景和极高的研究价值，在未来几年里经颅磁刺激技术无论在理论上还是临床上，将会有一个大的突破，TMS诱发伪迹的问题也将会得到很好的解决。
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