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饰品银含量和覆盖层厚度的X射线荧光检测

作者:吴奕阳; 杨鹔; 黄国芳分析化学x射线荧光法银饰品覆盖层厚度样品总厚度

摘要:采用X射线荧光显微仪和X射线荧光镀层测厚仪,以及K值计算法,对银饰品中银含量、镍覆盖层厚度和样品总厚度进行检测研究。银含量检测的结果与国家标准溴化钾容量法(电位滴定法)(GB/T17832-2008)的检测结果吻合。

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贵金属

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