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离子束加工误差对散射损失的影响研究

作者:吴冬良 戴一帆 王贵林 周林 焦长君去除函数加工残差散射损失比离子束加工ccos

摘要:离子束加工(Ion Beam Figuring,IBF)去除函数对加工残差具有重要的影响,而加工残差引起的表面散射则导致光学性能发生变化。为了减小加工残差对光学性能的影响,利用基于CCOS成形原理的离子束加工仿真程序对光学镜面进行修形,分析不同去除函数宽度对散射损失(Ratio of Scattering Loss,RSL)指标的影响。通过研究可知,随着去除函数宽度的减小,加工残差对散射损失的影响越来越小。因此,根据加工残差对RSL指标的影响程度以及RSL指标要求,可以合理选择去除函数宽度,从而在满足面形精度的同时,优化加工工艺。

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国防科技大学学报

《国防科技大学学报》(CN:43-1067/T)是一本有较高学术价值的大型双月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《国防科技大学学报》主要刊登航天工程、材料科学与工程、数学与系统科学、物理学、化学工程与技术、机械工程、控制科学与工程、电子科学与技术、信息与通信工程、管理科学与工程、计算机科学与技术、光学工程等学科领域的有创新性的论文,有创造性、实用性的技术成果报告,重要学术问题评述等。

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