测试性技术的发展综述

作者：李岳; 崔利荣计算机技术可测试性发展综述20世纪60年代大规模集成电路设计特性内部故障科学技术

摘要：测试性（Testability）又称可测试性，是指产品能被及时并准确地确定其状态（可工作、不可工作或性能下降）。并隔离其内部故障的一种设计特性。它始于20世纪60年代，于70年代在国外受到重视并得到迅速发展。由于科学技术的进步．特别是计算机技术和大规模集成电路的广泛应用，

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