作者：代福; 熊胜明; 张云洞包裹物电子束蒸发吸收截面重复率脉冲激光损伤阈值
摘要：利用介质薄膜中包裹物的热理论模型，结合S．Papernov等利用电子束蒸发技术在熔融石英上沉积含Au包裹物的HfO2薄膜实验，定出了Au的吸收截面。以包裹物Au为例计算了脉冲激光作用下不同包裹物半径对损伤阈值的影响，分析了重复率脉冲激光作用下薄膜损伤阈值的变化及重复频率与激光损伤阈值的关系。
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《光电子技术》（CN：32-1347/TN）是一本有较高学术价值的大型季刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《光电子技术》内容涵盖了平板显示、光纤通信、红外(紫外)摄像、电真空器件、薄膜、激光技术、自动化、计算机及各种测试技术等涉及光电转换的新工艺、新材料、新设备、新产品以及相关的器件、整机、生产线的应用。在广大专家学者、院校师生和相关厂所工程技术人员的关心和支持下,发行范围遍及全国、覆盖了整个光电行业及省会图书馆及大部分高等院校。
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