硫醚-金配位相互作用的单分子力谱研究

作者：李逊; 薛玉瑞; 宋宇; 张文科配位键单分子力谱溶剂效应自组装膜

摘要：利用基于原子力显微镜的单分子力谱技术,定量研究了独立状态下自组装单层膜中的单个硫醚-金相互作用强度,并从单分子水平探讨了外界因素对硫-金配位键强度的影响.结果表明,硫醚分子以配位键形式与金基底结合;与还原金表面相比,氧化金表面能够加强硫-金作用强度;另外,溶剂对其硫-金配位键强度也产生影响.

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