作者：罗倩; 吴时彬; 汪利华; 杨伟; 范斌稀疏子孔径教学建模拼接检测波面重构干涉测量
摘要：稀疏子孔径拼接检测是大口径、超大口径光学系统像质检测的主要方法之一，其拼接检测的精度与子孔径排列方式、数目以及大小密切相关。本文通过建立数学模型，推导出子孔径个数k在1到无穷区间取值，子孔径个数k与填充因子M的关系曲线，从而得出在1．5m以下系统检测的最优的七个稀疏子孔径排列布局图，并通过Ф200mm自准干涉检验，验证了这种排列布局的合理性。
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《光电工程》（CN：51-1346/O4）是一本有较高学术价值的大型月刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《光电工程》刊登内容包括工程光学和光电技术方面的学术论文和技术报告，主要有自适应光学，应用光学，微光学，光电捕获跟踪测量技术，光学设计，薄膜光学，自动控制，电视技术，激光技术，光刻，精密刻划和光电传感技术，光通信，光计算，以及光学方面的其它高新技术。
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