HI,欢迎来到学术之家,发表咨询:400-888-7501  订阅咨询:400-888-7502  股权代码  102064
0

X荧光能谱法快速分析钛合金中锡元素简

作者:刘平; 田禾; 孙金龙; 滑永永; 黄明波锡元素x荧光能谱钛合金成分分析

摘要:分析研究了钛合金的能量色散X射线荧光光谱,使用XRF-6型X射线荧光能谱仪对钛合金中锡元素进行了测定分析,结果表明X射线荧光能谱可有效的解决钛合金中锡元素的快速分析问题。锡元素的Kα特征射线能量值为25.193KeV,Kβ特征射线能量值为28.601KeV,通过与基体钛元素特征射线能量值的对比可以实现钛合金中锡元素的快速定性及定量分析。

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

分析仪器

《分析仪器》(CN:11-1822/TH)是一本有较高学术价值的大型双月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《分析仪器》指导分析仪器科研成果,推广分析仪器应用技术。面向分析仪器生产厂商、分析仪器使用单位、大专院校及科研单位的科技人员及师生。

杂志详情