作者：童晓民; 王楠; 董再蒸x射线荧光光谱钼精矿低稀释比
摘要：建立了X射线荧光光谱法测定钼精矿中Mo,Si,Ca,Cu,Pb,W,Bi,P,As,Sn的分析方法。通过固体纯物质机械混合研磨配制了校准曲线所用的12个标准样品。钼精矿样品在600℃进行了灼烧处理。采用混合熔剂(Li2B4O7:LiBO2:LiF=10:2. 5:1,m/m/m)加氧化剂LiNO3,并且以低稀释比(混合熔剂:LiNO3:灼烧后试样=4:0. 6:0. 8,m/m/m)熔融制备了X射线荧光法所用玻璃片样品。使用背景曲线法计算As元素的可靠背景强度;采用干扰曲线法校正MoL1对P Kα,Pb Lα对As Kα的谱线重叠干扰;采用经验系数法和Rh靶Compton内标法对各分析元素的基体效应影响进行了校正。钼精矿中微量元素检出限分别为:Cu(9. 4×10^-4%),Pb(1. 8×10^-3%),W (2. 2×10^-3%),Bi(1. 9×10^-3%),P(9. 0×10^-4%),As(6. 1×10^-4%),Sn(2. 3×10^-3%)。
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