作者：刘芬; 邱丽美; 赵良仲xps磁透镜绝缘样品荷电效应
摘要：用XPS分析绝缘样品时, 启用样品磁透镜有可能引起谱峰位移和峰形畸变,其原因是磁透镜的磁场与双阳极铝窗发出的低能电子发生了相互作用,并使后者偏转,从而影响了到达样品表面起中和作用的低能电子的数量和分布.实验显示, 用与不用磁透镜所造成的谱峰差异, 有可能被用来研究绝缘样品的光导现象.
注：因版权方要求，不能公开全文，如需全文，请咨询杂志社
《分析测试技术与仪器》（CN：62-1123/O6）是一本有较高学术价值的大型季刊，自创刊以来，选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《分析测试技术与仪器》的服务对象主要是在科研、教育系统隶属的分析测试中心、开放实验室、各行各业的分析测试实验室以及国外相应部门等从事科学研究分析测试工作的人员、教师及有关行业的科技工作者。
