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通道电子倍增器内壁涂层的X射线光电子能谱分析

作者:邱丽美; 刘芬; 赵良仲光电子能谱倍增器价态pbbi

摘要:用氩离子溅射-XPS纵深分析方法对通道电子倍增器内二次电子发射材料的元素组成和原子价态进行了分析,结果表明该材料中的主要元素为Pb,Bi,Ba,Si和O,其中Pb和Bi都以混合价态存在,它们分别是Pb^2+和Pb^0;Bi^3+和Bi^0.

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分析测试技术与仪器

《分析测试技术与仪器》(CN:62-1123/O6)是一本有较高学术价值的大型季刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。 《分析测试技术与仪器》的服务对象主要是在科研、教育系统隶属的分析测试中心、开放实验室、各行各业的分析测试实验室以及国外相应部门等从事科学研究分析测试工作的人员、教师及有关行业的科技工作者。

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