作者:龚庆; 赖于树; 浦蓉全抛釉砖声发射单轴加载破坏基理
摘要:为寻找更有效的全抛釉砖质量检测依据,对全抛釉砖提出更好的设计和使用方案,因此开展全抛釉砖单轴加载破坏全过程声发射试验。通过SAEU2S型数字声发射采集系统直接采集破坏全过程声发射信号波形,通过对不同状态下不同质量的全抛釉砖的振铃计数和能量分析处理,发现声发射信号产生的快慢、强弱及其变化过程与全抛釉砖的试验状态和质量有密切关系,并从声发射信号裂纹扩展角度阐释全抛釉砖破坏基理。
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