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一种w波段器件插损测试的方案分析

作者:王国庆传输测量反射测量插入损耗方向性驻波比

摘要:w波段器件插损的测试通常采用传输测量方法,该文提出了一种利用反射测量方法测试器件插损的方案,并对这一方案进行了一定的分析。

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电子质量

《电子质量》(CN:44-1038/TN)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。

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