作者：张学斌边界扫描技术可测试性设计互连测试集成电路
摘要：边界扫描技术是当前测试技术研究中的热点，主要介绍基于边界扫描的互连测试技术的原理、算法和应用。
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《电子元器件应用》是一本有较高学术价值的月刊，自创刊以来，以电子元器件应用为主题，以前倨后恭器件、新设计、新技术为主线，以技术性、资料性、实用性为特色。选题新奇而不失报道广度，服务大众而不失理论高度，颇受业界和广大读者的关注和好评。
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