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边界扫描测试技术的发展和影响

作者:郑先刚边界扫描测试可测试性设计集成电路

摘要:扼要介绍边界扫描测试技术的发展、IEEE1149系列测试标准及其影响

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电子元器件应用

《电子元器件应用》是一本有较高学术价值的月刊,自创刊以来,以电子元器件应用为主题,以前倨后恭器件、新设计、新技术为主线,以技术性、资料性、实用性为特色。选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度,颇受业界和广大读者的关注和好评。

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