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宇航用微波芯片电容器电极镀层可靠性评价方法研究

作者:韩宝妮; 文平; 董作典; 唐旭; 宋燕宇航应用微波元件芯片电容器电极镀层可靠性评价方法

摘要:微波芯片电容器作为一种新型的电容器,已被广泛应用于宇航,而国军标和行业标准中目前并无适用的评价方法.针对宇航用芯片电容器的应用方式和失效模式,设计了一套宇航用微波芯片电容器镀层可靠性的评价方法,用以评价其可靠性是否满足宇航应用需求.以国产芯片电容器为例对该评价方法进行验证.结果表明,该评价方法可有效评价和验证芯片电容器电极镀层的可靠性.

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电子元件与材料

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